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產(chǎn)品中心半導體材料測試霍爾電阻遷移率
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LEIModel1605，是非接觸遷移率測試系統(tǒng)，可對各種半導體材料和器件結(jié)構(gòu)進行測試。無需制樣，消除了樣品制備引起的遷移率變化。
更新時間：2026-03-31
產(chǎn)品型號：LEIModel1605
瀏覽量：1298
LEI88 是針對科研類客戶開發(fā)的產(chǎn)品，具備非接觸快速測試方塊電阻和電導率功能。
更新時間：2026-03-31產(chǎn)品型號：LEI88瀏覽量：1344
非接觸Hal和方塊電陽測試系統(tǒng)，可對GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各種半導體材料設(shè)計的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器件結(jié)構(gòu)進行測試。
更新時間：2026-03-31產(chǎn)品型號：瀏覽量：1543
SRP 測試系統(tǒng)，采用擴展電阻率技術(shù)(SRP)，對載流子濃度和電阻率隨深度的變化做快速測試。
更新時間：2026-03-31產(chǎn)品型號：瀏覽量：2360公司郵箱： qgao@buybm.com
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