SIRM紅外體微缺陷分析儀

產品簡介
SIRM是非接觸和非破壞型光學檢測設備，對體微缺陷，如氧化物和金屬沉淀，位錯、堆垛層錯，體材料中的滑線和空隙等進行測試。

這個技術也可對GaAs 和 InP等復合材料進行測試。

Name: SIRM紅外體微缺陷分析儀
Brand: 波銘科儀
Availability: InStock

產品型號：

更新時間：2026-03-31

廠商性質：生產廠家

訪問量：1713

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發光深能級瞬態譜測試橢偏拉曼AFM 半導體多功能測試 CV測試系統集成測試儀器租賃

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Capability:

無需制樣
最小測試缺陷尺寸10nm
測試缺陷濃度范圍:10⁵-10⁹cm^-3
可做外延片測試
測試樣品最大尺寸300mm

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續努力，不斷提升市場地位和影響力。

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