WT-2000半導體多功能測試

產品簡介
WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學參數測試。

產品型號：

更新時間：2025-12-08

廠商性質：生產廠家

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發光深能級瞬態譜測試橢偏拉曼AFM 半導體多功能測試 CV測試系統集成測試儀器租賃

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· Measurement Options.
· μ-PCD 技術做少子壽命掃描測試
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· 測試特定金屬雜質和沾污:Fe
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WT-2000半導體多功能測試

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